技術(shù)原理
X射線吸收譜儀(XAS)基于X射線與物質(zhì)中特定元素的相互作用。當X射線穿過樣品時,特定能量的射線會被樣品中的原子吸收,引發(fā)電子躍遷,發(fā)射出特定波長的X射線。這些發(fā)射的X射線攜帶樣品原子結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)信息。XAS技術(shù)核心是精細調(diào)控X射線能量,激發(fā)樣品中特定元素的電子躍遷,并測量X射線的能量和強度。通過分析吸收譜線的形狀、位置和強度,能獲取元素價態(tài)、配位環(huán)境、化學鍵類型以及局部電子結(jié)構(gòu)等關(guān)鍵信息。
應用實例
在材料科學領(lǐng)域,XAS技術(shù)可用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、電子態(tài)以及元素分布。例如,在電池材料研究中,XAFS技術(shù)可進行原位測試,分析材料在電池充放電過程中元素價態(tài)和結(jié)構(gòu)的變化,為電池性能優(yōu)化提供依據(jù)。在化學領(lǐng)域,XAS技術(shù)能揭示化學反應機理,幫助科學家理解反應過程中的原子和電子結(jié)構(gòu)變化。如天津大學一碳化工研究團隊利用X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀對CuxSi催化劑的電子結(jié)構(gòu)和配位環(huán)境進行表征,為Cu-O-Si界面和Cu-Si核殼顆粒催化劑上的反應提供了新的見解。在生物學和醫(yī)學中,XAS技術(shù)為研究生物大分子的空間構(gòu)象以及疾病診斷和治療提供新途徑。此外,XAS技術(shù)還可用于金屬材料成分檢測、薄膜材料厚度測定、考古樣品無損分析等場景。